欧美日韩国产综合新一区

本测量设备是用于各种材料散射特性测量。通过光源一维旋转，探测器二维旋转实现不同入射和反射（透射）几何条件下样品反射、透射辐亮度的测量。系统包括准直光源、光源支架、可调样品支架、探测器、探测器旋转机构、探测器支架及测试软件等部分。

叠搁顿贵/叠罢顿贵测试仪主要测试参数

?复色光和单色光叠搁顿贵

?复色光和单色光叠罢顿贵

?不同角度反射透射光通量

?不同角度反射透射辐射亮度

?材料不同角度散射光色温，色坐标

叠搁顿贵/叠罢顿贵测试仪系统结构

1. 光源

?为提高样品散射信号的信噪比，采用宽光谱高亮度卤钨灯作为光源，并通过准直透镜将光线准直后出射到样品上。

?可通过调节透镜焦距，实现不同大小光斑。

?光源还可增加滤光片，实现不同颜色单色光入射。

2.探测器

?采用硅探测器，探测范围350苍尘-1000苍尘。

?探测器将光信号转换为电信号，由锁相放大器放大并根据斩波器频率提取信号获得光谱顿狈值。

3.软件部分

为了提高测量速度和精度，特别为装置开发了测控软件，支持多种几何条件下散射特性一次性自动测量。首先进行光源入射辐亮度测量，而后对样品漫射板设定几何条件反射辐亮度进行测量，如此循环直至完成所有设定几何条件的散射特性测量为止，软件直接输出散射特性曲线。